Si è conclusa il 4 dicembre 2009 a Bari, con la premiazione dei migliori lavori presentati, la sesta edizione del concorso SIFET-MIUR per gli studenti degli ultimi anni degli istituti del 2° ciclo di istruzione.

La SIFET (Società Italiana di Fotogrammetria e Topografia) cura e promuove lo studio della fotogrammetria e topografia nelle sue varie accezioni, organizza annualmente corsi introduttivi e propedeudici indirizzati ad operatori pubblici e privati con dimostrazioni pratiche e possibili applicazioni, mostre ed esposizioni tecnico-commerciali per presentare un vasto panorama di innovazioni tecnologiche volte alla modernizzazione e allo sviluppo del settore.

La SIFET fa parte della ASITA (Federazione di Associazioni Scientifiche per le Informazioni Territoriali ed Ambientali) che raggruppa, oltre alla SIFET, l’AIT (Associazione Italiana di Telerilevamento), l’AIC (Associazione Italiana di Cartografia) e l’AM/FM/GIS-ITALIA (Automated Mapping Facilities Management Geografic Information Systems).

Data la quantità e la qualità degli elaborati presentati la Commissione giudicatrice ha ritenuto opportuno assegnare per il 3° e 4° posto rispettivamente due premi ex aequo:

1° classificato: Istituto Tecnico Statale di Istruzione Superiore “G. Quarenghi”- Bergamo
2° classificato: Istituto Tecnico Statale di Istruzione Superiore “Casagrande” – Pieve di Soligo (Tv)
3° classificati ex aequo:
-Istituto Tecnico Statale Commerciale e per geometri “25 Aprile”  – Cuorgnè (To)
-Istituto Statale d’Istruzione Superiore “A. Palladio”  – Treviso
4° classificati ex aequo:
-Istituto Tecnico Statale per Geometri “G.G. Marinoni”  – Udine
-Istituto d’Istruzione Superiore “F. Cucuzza” – Caltagirone (Ct)

La Commissione giudicatrice era costituita dal prof. Elio Falchi (Presidente SIFET), dall’Arch. Marcello Della Gala (consulente MIUR) e dal Prof. Claudio Pigato (Comitato Scientifico SIFET), con l’assistenza dell’ing. Monica Deidda dell’Università di Cagliari e della dott.ssa Ilaria Banni.

Agli istituti scolastici primi classificati sono stati assegnati premi forniti da numerose ditte specializzate del settore: livelli digitali, misuratori, programmi di topografia e fotogrammetria, ecc. Inoltre alll’istituto 1° classificato la SIFET ha assegnato un premio di 1.000 euro da destinare a materiale didattico per la scuola.

La SIFET, in collaborazione del MIUR, ha proposto il concorso anche per il prossimo anno scolastico. Il relativo bando è consultabile sui siti della SIFET (www.sifet.it) e del MIUR.